半导体

Intelligent manufacturing

面向刻蚀、薄膜沉积、等离子清洗等晶圆制造工艺,电竞比分极官网入口提供覆盖“工艺调试—量产监控—故障诊断—出厂验收”的射频功率在线测量方案,保障刻蚀速率与膜层均匀性稳定,实现等离子射频链路功率监控国产化。

适用对象: 晶圆制造产线、半导体设备厂商、射频电源厂商、等离子工艺研发实验室等。

一、行业痛点与核心需求

1. 功率微小波动影响晶圆良率 → 高精度在线实时监测

痛点: 刻蚀、PECVD、PVD溅射、ALD等工序依靠射频等离子体实现加工,射频功率微小波动就会直接影响晶圆良率。

需求: 工艺调试、量产监控与故障诊断全流程,亟需可溯源、高精度在线射频功率测量手段。

2. 需串入链路且不中断工艺 → 通过式在线测量

痛点: 测量需将仪表串入射频链路,在不中断工艺的前提下实时采集前向功率、反射功率与驻波VSWR。

需求: 通过式在线测量方案,安装于射频电源与匹配网络之间,实时采集前向/反射功率与VSWR。

3. 故障诊断与早期预警难 → 捕捉异常与趋势分析

痛点: 腔体打火、阻抗漂移、靶材老化、腔体污染等问题难以及时发现,影响工艺稳定性。

需求: 验证匹配调谐效果,捕捉腔体打火与阻抗漂移,提前识别靶材老化、腔体污染等问题。

4. 研发标定与整机验收缺乏手段 → 可溯源测试能力

痛点: 半导体设备研发标定与整机出厂验收缺乏可溯源、高精度的射频功率测试手段。

需求: 支撑研发标定与整机出厂验收,具备可溯源至国家基准的功率测量能力。

5. 进口设备成本高、交期长 → 国产化替代与降本增效

痛点: 进口功率监测设备价格高昂、交付周期长,产线运维成本偏高。

需求: 国产化、高精度、高可靠性的射频功率在线监测方案,降低产线采购与运维成本。

二、电竞比分极官网入口解决方案

1. 在线监测与功率测量

PM2180A系列一体式通过式功率计、PM7180+NT30A/T30A系列分体式通过式功率计、T30M嵌入式功率测量模块,实现在线不间断监测,覆盖13.56MHz、2MHz、40MHz等半导体主流射频频段,支持连续与脉冲功率测试;配套自动校准软件系统,实时采集功率、驻波等参数,实现趋势分析与故障预警。

2. 调试与阻抗分析

HP8000+H50系列高功率射频信号(阻抗)分析仪,用于匹配网络调谐与阻抗漂移分析;PM318B便携式宽频带功率计,用于现场巡检与快速排故。

3. 功率保障与器件防护

AS120系列射频功率稳幅控制器确保功率输出稳定;大功率负载(假负载)、定向耦合器、滤波器用于设备老化与系统防护。

4. 车间计量建标与自动化校准

PM117基准级功率计、PM317F/PM317H标准功率计、T10系列传递标准座,构建车间级计量标准;配套AutoMet-Cal自动化计量软件,实现数据自动采集、不确定度分析与校准报告一键生成。

三、核心优势

资质认可: 国家高新技术企业、专精特新企业。

国产验证: 计量溯源能力已在国家级计量比对项目中获得验证。

行业应用: 产品已被多家半导体领域企业认可使用,应用于晶圆等离子工艺产线与半导体设备研发调试环节,保障刻蚀速率、膜层均匀性稳定。

服务热线
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